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sigma500 二手蔡司場發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設(shè)備,它采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計,分辨率超過0.8nm,能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺。這款設(shè)備專注于EDS幾何學(xué)設(shè)計,可以獲取分析性能,而且有多種探測器選擇,可以精準(zhǔn)匹配您的應(yīng)用程序,獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)等多種圖像信息
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二手日立SU-8010場發(fā)射電鏡包括SU-8010主機(jī)和E-1045噴鉑噴碳裝置,并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時,分辨率為1.0nm,加速電壓為1kV時,分辨率為1.3nm。
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二手HITACHI-SU8010高分辨場發(fā)射掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡可用于材料分析和研究,特別是材料斷口分析、微區(qū)成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析等。
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(2)手日本電子JSM-7610Fplus(SEM測試,日本電子JSM-7610FPlus)適用于多種樣品的觀察和分析。實現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進(jìn)一步提升,以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng),提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察。
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二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡(SEM)是在各種科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強(qiáng)大工具。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同,SEMs使用電子而不是光來產(chǎn)生圖像。在SEM中,將聚焦的電子束掃描過樣品表面,電子與樣品之間的相互作用產(chǎn)生各種信號,被檢測到并轉(zhuǎn)換成圖像。初級電子束對表面進(jìn)行高精度掃描,以便對樣品的地形和形態(tài)進(jìn)行詳細(xì)檢查。SEM的主要優(yōu)點之一是能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像。
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二手蔡司場發(fā)射電鏡:具有出色的探測效率,能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,*高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時都具備靈活性,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像,提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。
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二手蔡司冷場電鏡,二手熱場場發(fā)射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,擁有第三代GEMINI 鏡筒,可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用,不用花費大量時間,使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能,超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制,納米技術(shù)等。
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二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡:掃描電鏡(SEM)是利用電子束掃描樣品表面,產(chǎn)生二次電子等信號,通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點是分辨率高,可觀察到納米級別的細(xì)節(jié),景深大,能清晰呈現(xiàn)三維形貌,可同時進(jìn)行成分分析。
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二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強(qiáng)大的微觀分析工具,能夠?qū)崿F(xiàn)對樣品表面形貌的高分辨率觀察,為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數(shù)范圍,能夠滿足不同研究領(lǐng)域的精細(xì)觀察需求。
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二手蔡司場發(fā)射電鏡,蔡司SUPRA 40VP場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理,在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上,低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等,獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息
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